表面微粒檢測儀的日常清潔與檢查
更新時間：2025-08-21 點擊次數：837次
表面微粒檢測儀是用于檢測固體或液體表面微粒污染的專業設備，廣泛應用于半導體、制藥、醫療器械及材料科學領域。其核心技術包括光學成像、激光散射和AI算法分析，可實現微米至納米級微粒的精準識別與分類。
技術與原理：
光學檢測技術：
激光散射成像：采用405nm激光光源，結合共聚焦顯微技術消除反射干擾。
光障礙法：通過微粒遮擋光束產生的信號變化計算粒徑（2-100μm），適用于透明液體（如注射液）。
圖像分析法：
高分辨率CMOS/CCD傳感器搭配顯微鏡頭，通過U-Net等AI模型自動分割微粒，分析形狀、粒徑及分布。
支持明場/暗場照明，增強透明微粒的檢測對比度。
多模態融合：
結合電子束檢測（EBI）與激光散射成像（LSI），提升復雜表面（如TSV結構）的檢測能力。
日常清潔與檢查：
光學系統維護：
每日使用前用無水乙醇擦拭傳感器窗口及光路組件，避免灰塵或樣品殘留影響檢測精度。
檢查激光光源強度，若發現衰減需校準或更換（建議每季度檢測光路穩定性）。
流體系統清潔：
每次檢測后需用純化水沖洗管路5次以上，黏稠樣品需增加熱水或有機溶劑清洗頻率。
每周更換0.45μm預過濾器，防止顆粒堵塞。
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